Pieejamās iekārtas

SMI pieejamās iekārtas, materiālu sagatavošanas un apstrādes metodes un to analīzes iespējas SMI

Silikātu, augsttemperatūras un neorganisko nanomateriālu sintēze
  • Augsttemperatūras krāsnis «Nabertherm LH 15/13» temperatūrām līdz 13000C; 
  • «Supertherm HT 16/17» temperatūrām līdz 17500C;
  • Laboratorijas aprīkojums sola-gela tehnoloģijai un iemērkšanas-izvilkšanas pārklājumu ieguves iekārta «KN 4002 KSV NIMA Dip Coater Single Vessel System Small» ar programmnodrošinājumu  KSV NIMA DC software version 3.00

Materiālu smalcināšanaveidošana

  • Planetārās ložu dzirnavas «Retsch PM 400» un «Sand»;
  • Ložu dzirnavas «Carl Jäger»;
  • Laboratorijas dzirnavas «Retsch RM 100»;
  • Laboratorijas vakuuma prese «HAENDLE PZVM-8b»;
  • Trīs galda hidrauliskās preses «SPRUT 10/185»;
  • Mālu sajaucējs un ekstrūderis «SHIMPO NRA-04S».

Birstošu materiālu sietu analīze

  • Vibrosijāšanas iekārta «Analissete 3 PRO»;
  • Laboratorijas sietu iekārta «RETSCH Vibratory Sieve Shaker AS 200 digit».

Nano- un mikrodaļiņu izmēru noteikšana, suspensiju, pastu un šķīdumu Z-potenciāla, pH un viskozitātes noteikšana

  • Zeta potenciāla un daļiņu izmēra noteikšanas iekārtas «90 Plus» un «MAS ZetaPALS Brookhaven Instr.»;
  • Viskozimetrs VT550 Thermo Haake Electron Corp. ar sensoru MV-DIN;
  • Mettler Toledo SevenMulti pH-metrs, elektrods InLab® 413;
  • Mettler Toledo SevenCompact konduktometrs, elektrods ar oglekļa sensoru InLab® 731 ISM.

Materiālu ķīmiskā analīze

  • Klasiskā ķīmiskā analīze, liesmas fotometrs «Zenaway».

Materiālu fāžu sastāva, struktūras, virsmas morfoloģijas un porainības analīze

  • Rentgenstaru difraktometrs «Rigaku Ultima +» ar augsttemperatūras kameru, ICDD datu bāzesPDF-4 + 2016PDF-4/Organics 2016 un programmatūra Sleve+2016;
  • IS Furjē spektrometrs «21 Prestige Shimadzu Corp.»;
  • Optiskais stereo mikroskops «Leica M420»;
  • Polarizācijas mikroskops «Leica DM LP» ar «Leica DC» fotokameru, datu apstrādei izmanto programmatūru «Image-Pro Plus 4,5»;
  • Atomu spēka mikroskops «VEECO CP II Scanning Probe Microscope»;
  • Slāpekļa adsorbcijas porozimetrs «Nova 1200 E-Series, Quantachrome Instruments» (porām no 0,35-200nm) un Hg porozimetrs «Pore Master 33 Quantachrome Instruments» (porām no 0,064-950 mkm).
  • Skenējošais galda elektronu mikroskops «Hitachi TableTop Microscope TM3000»
  • Augstas izšķirtspējas lauka emisijas (Šotki) zema vakuuma elektronu mikroskops «FEI Nova NanoSEM 650»

Materiālu termiskā un termomehāniskā analīze, mehānisko īpašību noteikšana

  • Augsttemperatūras derivatogrāfs MOM ar temperatūru diapazonu 1000-15000C;
  • Diferenciāli termiskās un termomehāniskās analīzes iekārta «SETSYS Evolution TGA-DTA/TMA SETARAM» temperatūrām līdz 1750oC;
  • Horizontālais dilatometrs «L76/1600 D»;
  • Bīdes un statiskās slodzes mērīšanas iekārta «Compression Test Plant ToniNorm, ToniTechnik by Zwick». Maksimālā slogošanas jauda 300 kN, programmatūra «Setsoft 2000»;
  • Akustiskā sistēma «Buzz-O-Sonic 5,0» elastības moduļa noteikšanai.

Paraugu sagatavošanas iekārtas optiskajai un elektronu mikroskopijai

  • Tegramin-20 (STRUERS). Automātiska, ar mikroprocesoru kontrolējama iekārta paraugu slīpēšanai un pulēšanai
  • CitoVac (STRUERS). Vakuuma impregnēšanas iekārta
  • Minitom (STRUERS). Paraugu griezšanas iekārta.
Latviešu