Pieejamās iekārtas

• Augsttemperatūras krāsnis «Nabertherm LH 15/13» temperatūrām līdz 1300⁰C; 
• «Supertherm HT 16/17» temperatūrām līdz 1750⁰C;
• Laboratorijas aprīkojums sola-gela tehnoloģijai un iemērkšanas-izvilkšanas pārklājumu ieguves iekārta «KN 4002 KSV NIMA Dip Coater Single Vessel System Small» ar programmnodrošinājumu  KSV NIMA DC software version 3.00. 
• Paštaisīta izsmidzināšanas pirolīzes iekārta ar regulējamu izsmidzināšanas atttālumu un maināmiem sprauslas, šķidruma/nesējgāzes plūsmas atruma parametriem. 
• Cauruļveida krāsns ar garumu 2m un diametru 10cm, 3 atsevišķi kontrolējamām karsēšanas zonām līdz 1100⁰C

Materiālu smalcināšana, veidošana

• Planetārās ložu dzirnavas «Retsch PM 400» un «Sand»;
• Ložu dzirnavas «Carl Jäger»;
• Laboratorijas dzirnavas «Retsch RM 100»;
• Laboratorijas vakuuma prese «HAENDLE PZVM-8b»;
• Trīs galda hidrauliskās preses «SPRUT 10/185»;
• Mālu sajaucējs un ekstrūderis «SHIMPO NRA-04S».

Birstošu materiālu sietu analīze

• Vibrosijāšanas iekārta «Analissete 3 PRO»;
• Laboratorijas sietu iekārta «RETSCH Vibratory Sieve Shaker AS 200 digit».

Nano- un mikrodaļiņu izmēru noteikšana, suspensiju, pastu un šķīdumu Z-potenciāla, pH un viskozitātes noteikšana

• Zeta potenciāla un daļiņu izmēra noteikšanas iekārtas «90 Plus» un «MAS ZetaPALS Brookhaven Instr.»;
• Viskozimetrs VT550 Thermo Haake Electron Corp. ar sensoru MV-DIN;
• Mettler Toledo SevenMulti pH-metrs, elektrods InLab® 413;
• Mettler Toledo SevenCompact konduktometrs, elektrods ar oglekļa sensoru InLab® 731 ISM.

Materiālu ķīmiskā analīze

• Klasiskā ķīmiskā analīze, liesmas fotometrs «Zenaway».

Materiālu fāžu sastāva, struktūras, virsmas morfoloģijas un porainības analīze

• Rentgenstaru difraktometrs «Rigaku Ultima +» ar augsttemperatūras kameru, ICDD datu bāzesPDF-4 + 2016, PDF-4/Organics 2016 un programmatūra Sleve+2016;
• IS Furjē spektrometrs «21 Prestige Shimadzu Corp.»;
• Optiskais stereo mikroskops «Leica M420»;
• Polarizācijas mikroskops «Leica DM LP» ar «Leica DC» fotokameru, datu apstrādei izmanto programmatūru «Image-Pro Plus 4,5»;
• Atomu spēka mikroskops «VEECO CP II Scanning Probe Microscope»;
• Slāpekļa adsorbcijas porozimetrs «Nova 1200 E-Series, Quantachrome Instruments» (porām no 0,35-200nm) un Hg porozimetrs «Pore Master 33 Quantachrome Instruments» (porām no 0,064-950 mkm).
• Skenējošais galda elektronu mikroskops «Hitachi TableTop Microscope TM3000»
• Augstas izšķirtspējas lauka emisijas (Šotki) zema vakuuma elektronu mikroskops «FEI Nova NanoSEM 650»

Materiālu termiskā un termomehāniskā analīze, mehānisko īpašību noteikšana

• Augsttemperatūras derivatogrāfs MOM ar temperatūru diapazonu 1000-1500⁰C;
• Diferenciāli termiskās un termomehāniskās analīzes iekārta «SETSYS Evolution TGA-DTA/TMA SETARAM» temperatūrām līdz 1750^oC;
• Horizontālais dilatometrs «L76/1600 D»;
• Bīdes un statiskās slodzes mērīšanas iekārta «Compression Test Plant ToniNorm, ToniTechnik by Zwick». Maksimālā slogošanas jauda 300 kN, programmatūra «Setsoft 2000»;
• Akustiskā sistēma «Buzz-O-Sonic 5,0» elastības moduļa noteikšanai.

Paraugu sagatavošanas iekārtas optiskajai un elektronu mikroskopijai

• Tegramin-20 (STRUERS). Automātiska, ar mikroprocesoru kontrolējama iekārta paraugu slīpēšanai un pulēšanai
• CitoVac (STRUERS). Vakuuma impregnēšanas iekārta
• Minitom (STRUERS). Paraugu griezšanas iekārta.

Plāno kārtiņu un pāklājumu analīzei

• Mikrocietības mērīšanas iekārta PMT 3
• TQC Wolff-Wilborn cietības tests (zīmuļa tests) – aprīkojums pāklājumu skrāpējamības cietības noteikšanai
• Elektroķīmiskā impedances spektroskopijas iekārtas “Metrohm Autolab” komplekts: potenciostats/galvanostats PGSTAT302N; impedances modulis FRA32M; vājstrāvu modulis ECD; aizverama virsmu šūna RHD.TSCSURF; pX1000 - pH / pX un temperatūras modulis, elektrodi un NOVA programmatūra